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    应用与案例

    电子产品因元器件失效造成的整机失效一直占比居高不下,电子元器件本身及使用的可 靠性保障对于电子产品整机可靠性的提高具有关键的作用。ATEC研发的高低温(湿热)、快速温度变化以及多因素综合试验箱,通过模拟元器件的工作环境来验证其可靠性,提高电子产品整机的可靠性。 电子行业: CH系列 高低温(湿热)试验箱 ESS系列 高低温快速温度变化试验箱 CVTH系列 温度/湿度/振动综合试验箱

    应用产品

    CH/SU系列

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    高低温(湿热)试验箱

    CH-ESS系列

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    高低温快速温度变化试验箱

    CST系列

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    温度冲击试验箱

    CH-CVTH

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    温度/湿度/振动三综合试验箱

    SR系列

    太阳辐射试验箱

    UC系列

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    大型步入式试验箱

    SD系列

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    砂尘试验箱



    应用展示


    • 国内著名电子设备制造厂商应用


     某所32立方步入式温湿度试验箱 UC32-4290 

    某所32立方步入式温湿度试验箱 UC32-4290

    • ATEC产品在国内国内知名光通信行业某公司实验